Perbezaan Antara TEM dan SEM

TEM vs SEM

Kedua-dua SEM (mikroskop / mikroskopi pengimbasan elektron) dan TEM (mikroskop / mikroskopi elektron penghantaran) merujuk kepada instrumen dan kaedah yang digunakan dalam mikroskop elektron.

Terdapat pelbagai persamaan antara kedua-dua. Kedua-duanya adalah jenis mikroskop elektron dan memberikan kemungkinan melihat, mengkaji, dan mengkaji zarah kecil atau subatomik atau komposisi sampel. Kedua-duanya juga menggunakan elektron (khususnya, balok elektron), caj negatif atom. Juga, kedua-dua sampel yang digunakan perlu "bernoda" atau bercampur dengan unsur tertentu untuk menghasilkan imej. Imej-imej yang dihasilkan dari instrumen ini sangat diperbesar dan mempunyai resolusi tinggi.

Walau bagaimanapun, SEM dan TEM juga berkongsi beberapa perbezaan. Kaedah yang digunakan dalam SEM adalah berdasarkan elektron bertaburan manakala TEM adalah berdasarkan kepada elektron yang dihantar. Elektron bertaburan di SEM diklasifikasikan sebagai elektron tertindas atau sekunder. Walau bagaimanapun, tidak ada klasifikasi elektron lain dalam TEM.

Elektron bertaburan di SEM menghasilkan imej sampel selepas mikroskop mengumpul dan menghitung elektron bertaburan. Dalam TEM, elektron langsung menunjuk ke arah sampel. Elektron yang melewati sampel adalah bahagian-bahagian yang diterangi dalam imej.
Tumpuan analisis juga berbeza. SEM memberi tumpuan kepada permukaan sampel dan komposisinya. Sebaliknya, TEM bertujuan untuk melihat apa yang ada di dalam atau di luar permukaan. SEM juga menunjukkan sampel sedikit demi sedikit sementara TEM menunjukkan sampel keseluruhannya. SEM juga menyediakan imej tiga dimensi manakala TEM menyampaikan gambar dua dimensi.

Dari segi pembesaran dan penyelesaian, TEM mempunyai kelebihan berbanding SEM. TEM mempunyai sehingga 50 juta pembesaran manakala SEM hanya menawarkan 2 juta sebagai tahap pembesaran maksimum. Resolusi TEM adalah 0.5 angstroms manakala SEM mempunyai 0.4 nanometer. Walau bagaimanapun, imej SEM mempunyai medan kedalaman yang lebih baik berbanding dengan imej yang dihasilkan oleh TEM.
Satu lagi perbezaan adalah ketebalan sampel, "pewarnaan," dan persediaan. Sampel di TEM dipotong tipis berbanding dengan sampel SEM. Di samping itu, sampel SEM adalah "bernoda" oleh unsur yang menangkap elektron bertaburan.

Dalam SEM, sampel disediakan pada ranting aluminium khusus dan diletakkan di bahagian bawah ruang instrumen. Imej sampel diproyeksikan ke skrin CRT atau televisyen.
Sebaliknya, TEM memerlukan sampel yang disediakan dalam grid TEM dan diletakkan di tengah-tengah ruang khusus mikroskop. Imej dihasilkan oleh mikroskop melalui skrin pendarfluor.

Satu lagi ciri SEM adalah bahawa kawasan di mana sampel diletakkan boleh diputar dalam sudut yang berbeza.
TEM dibangunkan lebih awal daripada SEM. TEM dicipta oleh Max Knoll dan Ernst Ruska pada tahun 1931. Sementara itu, SEM telah diwujudkan pada tahun 1942. Ia dibangunkan pada masa yang akan datang kerana kerumitan proses pengimbasan mesin.

Ringkasan:

1. SEM dan TEM adalah dua jenis mikroskop elektron dan alat untuk melihat dan memeriksa sampel kecil. Kedua-dua instrumen menggunakan rasuk elektron atau elektron. Imej-imej yang dihasilkan dalam kedua-dua alat sangat besar dan menawarkan resolusi tinggi.
2.Jika setiap mikroskop berfungsi sangat berbeza dari yang lain. SEM mengimbas permukaan sampel dengan melepaskan elektron dan membuat elektron melantun atau berselerak dengan kesan. Mesin mengumpul elektron bertaburan dan menghasilkan imej. Imej digambarkan pada skrin seperti televisyen. Sebaliknya, TEM memproses sampel dengan mengarahkan rasuk elektron melalui sampel. Hasilnya dilihat menggunakan skrin pendarfluor.
3.Images juga merupakan titik perbezaan antara dua alat. Imej SEM adalah tiga dimensi dan representasi yang tepat manakala gambar TEM adalah dua dimensi dan mungkin memerlukan sedikit tafsiran. Dari segi resolusi dan pembesaran, TEM mendapat lebih banyak keuntungan berbanding dengan SEM.